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内部芯片使用太耗电 TD手机测试很“烫手”
铭万网 时间: 2006年06月16日18:36 信息来源: 每日经济新闻

    3G概念火热,没想到TD-SCDMA制式的3G手机更“热”。日前有人通过内部渠道试用TD-SCDMA制式的3G手机,结果手机使用15分钟就出现发烫现象。专业人士表示,“烫手”原因主要是芯片功耗太高,而太热又影响手机稳定性。业内人士担忧,这一技术问题很可能将TD-SCDMA制式的3G手机商用期拖后到明年底。果真如此,火热的3G概念无疑将被泼上一盆冷水。

    正在进行的3G大规模测试中,TD-SCDMA制式3G手机的烫手问题开始逐渐显露。日前通过内部渠道试用的3G手机,结果手机使用了15分钟就出现发烫现象。业内人士表示,该技术问题很可能将TD-SCDMA制式的3G手机商用期拖后到2007年底。

    “主要是功耗和稳定性的问题。”一位刚从北京回来的3G手机设备研发人员透露。

    该人士拿出一款用来做测试的GSM和TD-SCDMA双模手机作为验证。在GSM网络环境下,记者使用不到15分钟,手机就隐隐开始发热。当这位人士开始演示手机里内置的一些游戏时,手机真的“烫手”了。

    该人士表示:“造成烫手的原因主要是芯片太耗电。稳定性也很麻烦,主要是3G手机的系统很复杂,太热也影响了稳定性。虽然信号还可以,但打通一个电话和一直能够打通电话之间是有很大区别的。”

    另一家终端厂商的工程师在接受电话采访时表示,这确实是参加TD-SCDMA规模测试中的大多数公司的共同难题。“功耗控制确实不很成熟,尤其是通话时的电流很大,导致手机会出现发烫的现象。”

作者:王初虹    

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